半导体测试电源
阅读次数:85 发布时间:2026-09-20
产品简介:
本款半导体测试专用高压脉冲电源采用3U紧凑型标准机身设计,可适配机柜集成安装,具备宽范围、高精度的脉冲输出能力,可精细化调节电压、脉宽、频率与占空比,搭配高分辨率峰值电流采样功能,可精准完成各类半导体器件动态性能测试与老化验证。
应用行业:
本产品可精准捕获器件瞬态响应,主要用于功率半导体器件如 SiC、IGBT 等器件的脉冲冲击、老化及可靠性测试,满足实验室研发验证、产线批量测试及可靠性老化筛选等多元场景需求。3U标准机箱设计便于集成于自动化测试系统或机柜组阵,为功率半导体、集成电路及分立器件厂商提供高效、灵活的测试解决方案。
产品参数:
规格型号:TGD2000-1P60
供电电压 :220VAC+10%,50HZ
输出脉冲电压: 0~60V连续可调
电压调节精度: 0.1V
输出脉冲电流:10A
频率范围:1HZ~1KHZ,步进1HZ
脉宽:10us-DC(可调节)
上升/下降沿:100ns
输出电流采样功能:采样为峰值电流
电流采样精度:1mA
控制方式:触控屏控制+远程通讯
外触发驱动信号:TTL电平信号
电源保护功能:过温、过流、短路保护
通讯端口:RS485/以太网
规格型号:TGD300-1P600V
供电电压: 220VAC+10%,50HZ
输出脉冲电压:0~600V连续可调
电压调节精度:0.5V
输出脉冲电流:1A
频率范围:1HZ~200KHZ,步进1HZ
脉宽:10us-DC(可调节)
上升/下降沿:300--500ns
输出电流采样功能:采样为峰值电流
电流采样精度:0.1mA
控制方式:触控屏控制+远程通讯
外触发驱动信号:TTL电平信号
电源保护功能:过温、过流、短路保护
通讯端口:RS485/以太网
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